Buffer Over-read in BT Controller (Qualcomm, Inc. Snapdragon)

CVE-2025-47318
HIGH 7.5

En bref

Source
NVD
EPSS
EPSS 0.21 % · centile 11 ()
État
PUBLISHED
Publiée
Mise à jour
Attribuée par
qualcomm
Statut NVD
Analyzed

Description

Transient DOS while parsing the EPTM test control message to get the test pattern.

Faiblesses (CWE)

Références

Scores

VersionScoreVecteurÉvalué par
CVSS 3.1HIGH 7.5CVSS:3.1/AV:N/AC:L/PR:N/UI:N/S:U/C:N/I:N/A:Hqualcomm
CVSS 3.1HIGH 7.5CVSS:3.1/AV:N/AC:L/PR:N/UI:N/S:U/C:N/I:N/A:HNVD · product-security@qualcomm.com (Secondary)

Références européennes

Avis du CERT-FR

Configurations affectées (CPE NVD)

Produits affectés

ProduitVersions
Qualcomm, Inc. · Snapdragonaffected APQ8017 ; affected APQ8064AU ; affected AQT1000 ; affected AR8031 ; affected AR8035 ; affected CSRA6620

Sources

SourceLicence
CVE List (CVEProject cvelistV5)CVE Program Terms of Use
EPSS (FIRST.org)FIRST — attribution requested
ENISA EUVDENISA — reproduction authorised, source acknowledged
CERT-FR (ANSSI)Licence Ouverte / Etalab 2.0
NVD (NIST) via fkie-cad/nvd-json-data-feedsPublic domain — this product uses data from the NVD API but is not endorsed or certified by the NVD